請優先回覆客戶原始叫修 Email。
使用「複製主旨」與「複製格式化內文」貼入回覆郵件，保留原郵件往來；貼上內文時選擇「保留來源格式」。
若沒有客戶叫修 Email，再點「Outlook（新郵件）」一鍵開啟，帶入主旨及內文。
Weekly Report
依手動週報格式：查修置頂，工程、新卡驗證各自分區；同產品合併多筆 SN 與日期，保留初始問題、查修過程及後續追蹤。
Bi-weekly Report
該週僅查修記錄（不含工程、新卡驗證）
Custom Report
自訂日期區間，可選擇全部記錄或僅查修
Utilities 工具箱
選擇工具進行查詢、比對或檔案處理；切換工具會保留目前輸入與結果。
UltraFLEX Channel Mapping
登入後載入板卡清單
📊 Datalog Compare
比較兩份 Datalog 的差異，支援 UltraFLEX 和 V93000 格式
修前修後同一顆比較
📦 程式／電路檔案庫
盤點中...
依實際產品型號管理電路圖、TOP／BOT 零件位置圖及測試程式；上傳後自動建立索引供 AI 查修使用。
型號檔案總覽
依目前檔案庫盤點，電路圖及 TOP／BOT 僅盤點 UltraFLEX 型號。點選型號即可查看下方下載檔案；基礎型號會彙整同系列 DUT 版本。
圖檔收錄率及待補篩選僅計 UltraFLEX 型號。「已收錄」表示有原檔；程式另標示可讀狀態。
沒有符合目前條件的型號。
📥 選擇型號下載程式與三類 PDF
請先選擇型號
📟 ATE Board EEPROM 智能解析器
UltraFLEX TDR (25LC256) & V93000 (AT24C64)
支援拖放 1 至 4 個 .bin 檔，自動辨識測試機台格式、解碼最後校準時間、TDR 走線延遲分佈圖與多板差異比對。
📁
拖放 .bin 檔案至此，或點擊選擇檔案
支援單一檔案解析，或同時選取 2 ~ 4 個檔案進行自動 TDR 多板比對 (UltraFLEX 32KB / V93000 8KB)
⚖️ 多板 TDR 智能比對 (Multi-Board Comparison)
📈 TDR 走線時序延遲分佈 (Propagation Delay in ps)
🤖 AI 輔助查修
FAE skill：載入中程式索引：載入中
🔎 查測試程式索引
依下方 Device／型號搜尋，亦可輸入 Bin、測試名稱、VBA 函式或模組名稱。AI 綜合查修會自動使用有效索引。
輸入完整產品名稱可提高匹配準確度。AI 會自動搜尋型號相關的測試程式、電路圖文字與歷史維修；如有 Datalog，會一併分析。結果會列出使用來源與缺少資料，供工程判斷與驗證。
⏳ 解析 STDF 中...
正在建立分析工作...已等待 0 秒
- 歷史維修
- 歷史 Datalog
- 搜尋檔案
- 測試程式
- 電路圖／Datalog
- AI 分析
- 完成
顯示實際處理階段；AI 分析時間依資料量而異。短暫斷線會自動重試。
查看資料來源與限制
🎓 CHPT FAE 新人教育訓練與案例庫
雙軌適性培訓：電子學基礎補強、ATE 機台與測試概論、Datalog 失效分析與 4,400+ 真實案例庫
📚 《半導體測試概論》（全書 15 章 238 頁完整教材）
訪客預覽
核心教材改版自白安鵬彙編之半導體測試經典。非電子電機背景新人建議從「第 1 章：電子學的基本概念 (Track B)」起步；具備電路基礎者可直接進入「第 2 章：半導體測試基本概念 (Track A)」。
📝 新人適性分流測驗 (20 題精選 · 支援免登入自測)
改版自《半導體測試概論》全書 15 章關鍵核心考點。涵蓋基本電學、PMU 量測模式、ESD 開短路保護、DC/AC 參數、功能測試波形、Shmoo 特性分析、故障排除與 Latch-Up/Scan 測試。測驗達 70 分以上判定為 Track A (免修第 1 章基礎電學，直進 ATE 核心)，未達 70 分建議進入 Track B 補修基礎。
🛡️ 教材去識別化過濾器 (De-identification Tool)
將真實客戶之 Datalog、報表或郵件內容貼入，一鍵替換客戶代號 (如 MTK $\to$ Customer-A)、產品料號 (如 MT6667 $\to$ DUT-Series-X)、去除批號 (Lot)、晶圓號 (Wafer) 與工程師 SN，生成安全合規之教育訓練教材。